IIW試塊 （標(biāo)準(zhǔn)試塊）IIW是國(guó)際焊接學(xué)會(huì)的英文縮寫。該試塊是荷蘭代表首先提出來的，故稱荷蘭試塊。該試塊形狀似船形，因此又叫船形試塊。 IIW試塊結(jié)構(gòu)尺寸如圖所示。IIW試塊材質(zhì)相當(dāng)于我國(guó)20號(hào)鋼，正火處理，晶粒度7～8級(jí)。

                                   如圖所示 IIW 試塊(單位:mm) 

IIW試塊的主要用途如下：

1)調(diào)整縱波檢測(cè)范圍和掃描速度(時(shí)基線比例):利用試塊上25mm和100mm 尺寸。

2)校驗(yàn)儀器的水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍：利用試塊上25mm或100mm尺寸。

3)測(cè)定直探頭和儀器組合的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力：利用試塊上85、91和100mm尺寸。

4)測(cè)定直探頭和儀器組合后的最大穿透能力：利用650mm有機(jī)玻璃塊底面的多次反射波 。

5)測(cè)定直探頭與儀器組合的盲區(qū)：利用試塊上φ50nm有機(jī)玻璃圓弧面至側(cè)面間距5mm和10mm。

6)測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)：用R100圓弧面。

7)測(cè)定斜探頭的折射角：折射角在35°～76°范圍內(nèi)用φ50mm 孔測(cè)，折射角在74°～80°范圍內(nèi)用φ1.5 mm圓孔測(cè)。

8)測(cè)定斜探頭和儀器組合的靈敏度余量：利用試塊R100或φ1.5 mm。

9)調(diào)整橫波檢測(cè)范圍和掃描速度：由于縱波聲程91mm相當(dāng)于橫波聲程50 mm,因此 可以利用試塊上91mm 來調(diào)整橫波的檢測(cè)范圍和掃描速度。例如橫波1:1,先用直探頭對(duì) 準(zhǔn) 91底面，使底波B? 、B? 分別對(duì)準(zhǔn)50、100,然后換上橫波探頭并對(duì)準(zhǔn)R100圓弧面，找到最高回波，并調(diào)至100即可。

10)測(cè)定斜探頭聲束軸線的偏離：利用試塊的直角棱邊測(cè)。

IIW試塊用途較廣，但也有一些不足，對(duì)此一些國(guó)家做了小的修改作為本國(guó)的標(biāo)準(zhǔn)試 塊。如德國(guó)和日本在 R100圓心處兩側(cè)加開寬為0.5 mm,   深 為 2 mm的溝槽，借以獲得 R100 圓弧面的多次反射，這就克服了IIW試塊調(diào)整橫波檢測(cè)圍和掃描速度不便的缺點(diǎn)。

IIW2試塊（標(biāo)準(zhǔn)試塊）

IIW2試塊也是荷蘭代表提出來的國(guó)際焊接學(xué)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)試塊，由于外形類似牛角，故又稱牛角試塊。與IIW試塊相比，IIW2試塊質(zhì)量輕、尺寸小、形狀簡(jiǎn)單、容易加工和便于攜帶，但功能不及IIW試塊。IIW2試塊的材質(zhì)同IIW, 結(jié)構(gòu)尺寸和反射特點(diǎn)如圖所示。

如圖所示   IIW2試塊(單位:mm)

當(dāng)斜探頭對(duì)準(zhǔn) R25時(shí) ，R25 反射回波一部分被探頭接收，顯示 B?,另一部分反射至R50, 然后又返回探頭，但這時(shí)不能被接收因此無回波。當(dāng)此反射波再次經(jīng)R25 反射回到探頭時(shí)才能被接收，這時(shí)顯示 B?,它與 B?的間 距 為 R25+R50 。以后各次回波間距均為R25+R50。

IIW2 試塊的主要用途如下：

1)測(cè)定斜探頭的人射點(diǎn)：利用R25 與 R50 圓弧反射面測(cè)。

2)測(cè)定斜探頭的折射角：利用φ5 mm 橫通孔測(cè)。

3)測(cè)定儀器水平、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍：利用厚度12.5測(cè)。

4)調(diào)整檢測(cè)范圍和掃描速度：縱波直探頭利用12.5底面的多次反射波調(diào)整，橫波斜探 頭利用R25 和 R50 調(diào)整。

5)測(cè)定儀器和探頭的組合靈敏度：利用φ5mm 或 R50 圓弧面測(cè)。