CSK-IA試塊（標(biāo)準(zhǔn)試塊）

該試塊是國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)TB1152-81規(guī)定的試塊,它與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)試塊ⅡW相比有以下三處不同：

一是將R100圓曲面改為R50、R100階梯圓曲面,可同時(shí)獲得兩個(gè)反射回波,校正橫波掃描速度;

二是將50孔改為40、中44、450臺(tái)階孔,有利于測(cè)定斜探頭的分辨率;

三是將折射角改為K值。

如圖所示CSK-IA 試塊(單位:mm)

其用途有以下幾條:

①利用厚度25mm和高度100mm,測(cè)定探傷儀的水平、垂直線性、動(dòng)態(tài)范圍和調(diào)整縱波探測(cè)范圍、校正時(shí)基線。

②)利用 R50 和R100調(diào)整橫波探測(cè)范圍、零位校正和測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)(前沿長(zhǎng)度)。

③利用高度 85 mm、91 mm、100 mm 測(cè)定直探頭分辨力,利用$40、p44、$50曲面測(cè)定斜探頭分辨力。

④利用φ50 曲面和φ1.5 橫孔測(cè)定斜探頭 K值

⑤利用50有機(jī)玻璃塊測(cè)定直探頭盲區(qū)和穿透力

⑥利用試塊直角棱邊測(cè)定斜探頭的聲軸偏斜角。